AVISO de consulta pública del Proyecto de Norma Mexicana PROY-NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014

AVISO de consulta pública del Proyecto de Norma Mexicana PROY-NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014.

Al margen un sello con el Escudo Nacional, que dice: Estados Unidos Mexicanos.- Secretaría de Economía.- Subsecretaría de Competitividad y Normatividad.- Dirección General de Normas.

AVISO DE CONSULTA PBLICA DEL PROYECTO DE NORMA MEXICANA PROY-NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014, NANOTECNOLOGAS-DESCRIPCIN, MEDICIN Y DESCRIPCIN DE PARÁMETROS DE CALIDAD DIMENSIONAL DE REJILLAS ARTIFICIALES.
La Secretaría de Economía, por conducto de la Dirección General de Normas, con fundamento en lo dispuesto por los artículos 34 fracciones II, XIII y XXXIII de la Ley Orgánica de la Administración Pública Federal; 3 fracción X, 51-A, 51-B y 54 de la Ley Federal sobre Metrología y Normalización; 43, 44 y 46 del Reglamento de la Ley Federal sobre Metrología y Normalización y 21 fracciones I, IX y XXI del Reglamento Interior de esta Secretaría, publica el aviso de consulta pública del proyecto de norma mexicana que se enlista a continuación, mismo que ha sido elaborado y aprobado por el Comité Técnico de Normalización Nacional en Nanotecnologías.
De conformidad con el artículo 51-A de la Ley Federal sobre Metrología y Normalización, este proyecto de norma mexicana, se publica para consulta pública a efecto de que dentro de los siguientes 60 días naturales los interesados presenten sus comentarios ante el seno del Comité que lo propuso, ubicado en el Centro Nacional de Metrología, kilómetro 4.5 Carretera a Los Cués, El Marqués, Querétaro, México, código postal 76241, Tel. +52(442)211 0575 o al correo electrónico rlazos@cenam.mx.
El texto completo del documento puede ser consultado gratuitamente en la Dirección General de Normas de esta Secretaría, ubicada en Avenida Puente de Tecamachalco número 6, Lomas de Tecamachalco, Sección Fuentes, código postal 53950, Naucalpan de Juárez, Estado de México o en el Catálogo Mexicano de Normas que se encuentra en la página de Internet de la Dirección General de Normas cuya dirección es http://www.economia-nmx.gob.mx/normasmx/index.nmx
CLAVE O CDIGO
TTULO DEL PROYECTO DE NORMA MEXICANA
PROY-NMX-R-62622-SCFI-ANCE-2014
NANOTECNOLOGAS-DESCRIPCIN, MEDICIN Y DESCRIPCIN DE PARÁMETROS DE CALIDAD DIMENSIONAL DE REJILLAS ARTIFICIALES
Síntesis
Este proyecto de norma mexicana especifica la terminología genérica aplicable a los parámetros de calidad globales y locales de rejillas artificiales expresados en términos de desviaciones respecto a las posiciones nominales de los elementos geométricos de la rejilla, y orienta sobre la categorización de métodos de medición y evaluación aplicables a la calibración y caracterización de rejillas artificiales.
Este proyecto de norma mexicana intenta facilitar la comunicación entre fabricantes, usuarios y laboratorios de calibración relacionados con la caracterización de los parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales usadas en nanotecnología.
Este proyecto de norma mexicana sirve de soporte para el aseguramiento de la calidad en la producción y el uso de rejillas artificiales en diferentes áreas de aplicación en nanotecnología. Aun cuando las definiciones y métodos descritos son universales a una gran variedad de rejillas, el documento se enfoca en rejillas unidimensionales (1D) y bidimensionales (2D).
 
México, D.F., a 10 de septiembre de 2014.- El Director General de Normas y Secretariado Técnico de la Comisión Nacional de Normalización, Alberto Ulises Esteban Marina.- Rúbrica.